搪玻璃容器玻璃層厚度測(cè)量

搪玻璃容器的搪玻璃層厚度一般為0.8～2.0mm，采用電磁性儀器無(wú)損測(cè)量磁性基體上的搪玻璃層厚度。其原理是用電磁法測(cè)量通過(guò)搪玻璃層與金屬基體磁路磁阻的變化而得到搪玻璃層的厚度。測(cè)量精度對(duì)薄的搪玻璃層是一個(gè)常數(shù)值，與厚度無(wú)關(guān)。對(duì)厚的搪玻璃層，其精度隨搪玻璃層厚度的增加有所降低。

磁性測(cè)厚儀受金屬基體磁性變化的影響，低碳鋼的磁性變化是輕微的，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，最好采用未搪玻璃前的試件進(jìn)行校正。同時(shí)，儀器制造廠會(huì)提供磁性測(cè)厚儀的臨界厚度值，超過(guò)這個(gè)厚度，測(cè)定值不會(huì)受到金屬基體厚度增加的影響。

搪玻璃層的表面粗糙度、曲率半徑、邊緣效應(yīng)對(duì)測(cè)量值都有影響。如果在搪玻璃層粗糙表面上同一參考面積內(nèi)所測(cè)得的數(shù)值超過(guò)儀器固有的重現(xiàn)性，則測(cè)量次數(shù)應(yīng)增加到5次。搪玻璃層的曲率半徑越小，影響越明顯。太靠近搪玻璃層邊緣或拐角處的測(cè)量數(shù)值是不可靠的，應(yīng)距邊角＞15mm處進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)，搪玻璃層表面必須干凈，不能有附著物。為保證測(cè)量值的準(zhǔn)確性，可根據(jù)具體條件對(duì)測(cè)厚儀進(jìn)行校正。

另外，金屬基體機(jī)加工方向、金屬基體中的剩磁、測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)的磁場(chǎng)、測(cè)頭壓力的大小、測(cè)頭方向與地球重力場(chǎng)方向相同或相反等都有影響，應(yīng)采取措施以使測(cè)量值準(zhǔn)確。